文档介绍：一种隔膜均匀性检测方法及其检测装置制造方法
一种隔膜均匀性检测方法及其检测装置制造方法
本发明公开了一种该隔膜均匀性检测方法及检测装置，该检测方法，在隔膜两侧各放置一偏光片；在其中一偏光片外侧放置光源，光源发光经该偏光片射入，照射隔膜后]所述隔膜为押出膜、贴合膜、复合膜或热处理膜。
[0011]该隔膜均匀性检测装置，包括设在所述隔膜两侧的偏光片，在设于所述隔膜一侧的偏光片外侧设有光源。
[0012]在设于所述隔膜另一侧的偏光片外侧设有连接有处理器的CXD图像传感器。
[0013]所述偏光片光轴方向和所述隔膜表面夹角为45° ±10°。
[0014]本发明的优点在于:该隔膜均匀性检测方法，在隔膜两侧设置偏光片，利用偏光片与测量物之间的光学特性使薄膜呈现不同的色彩变化，根据色彩变化判断薄膜整体的厚度、应力分布和材料结构的均匀性。根据薄膜均匀性检测结果，利用人工或自动方式回馈调整薄膜制作过程与设备参数，以得到高均匀性的薄膜，使薄膜成品率得到提升与改善。该隔膜均匀性检测装置，用于薄膜均匀性检测，能够通过薄膜均匀性检测结果，判断薄膜内部均匀性，以进一步调整工艺，来提高薄膜成品率。【专利附图】
【附图说明】
[0015]下面对本发明说明书各幅附图表达的内容及图中的标记作简要说明:
[0016]图1为本发明隔膜均匀性检测装置的结构示意图。
[0017]图2为图1隔膜均匀性检测装置的偏光片和隔膜之间的重叠结构示意图。
[0018]上述图中的标记均为:
[0019]1、隔膜,2、上偏光片,3、下偏光片,4、光源，5、(XD图像传感器。
【具体实施方式】
[0020]下面对照附图，通过对最优实施例的描述，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细的说明。
[0021]如图1和图2所示，该隔膜均匀性检测装置，包括设在隔膜I两侧的偏光片，偏光片分为上偏光片2和下偏光片3,在设于隔膜I 一侧的偏光片(即下偏光片3)外侧设有光源4。
[0022]在设于隔膜I另一侧的偏光片(即上偏光片2)外侧设有连接有处理器的CXD图像传感器5。处理器读取CCD图像传感器5采集的色彩信息后，与内部预先存储的设定值进行分析比较判断，以确定隔膜均匀性程度。
[0023]偏光片光轴方向和隔膜I表面(薄膜I加工方向)夹角为45° ±10°。
[0024]该隔膜均匀性检测方法，利用隔膜均匀性检测装置来实现，在隔膜I两侧各放置一偏光片；偏光片分为上偏光片2和下偏光片3,在下偏光片3外侧放置光源4,光源4发光经该下偏光片3射入，照射隔膜I后，再由上偏光片2射出；根据上偏光片2射出的光线色彩分布判定隔膜的均匀性。
[0025]通过光线色彩分布判定隔膜I的均匀性，可通过人眼判断，亦可经过图像处理装置判断。优选偏光片射出的光线通过CCD图像传感器传送给和CCD图像传感器连接的处理器，通过处理器分析判断隔膜的均匀性。
[0026]优选偏光片光轴方向和隔膜表面夹角为45° ±10°。
[0027]光源4可为任何发光方式的光源发生器发出，光源4发出的可见光波长为400?700nmo
[0028]隔膜I为前躯膜，隔膜I可为押出膜、贴合膜、复合膜或热处理膜。
[0029]该隔膜均匀性检测方法，利用偏光片重叠于隔膜I两侧上，偏光片的吸收轴与被检测物表面(即薄膜加工方向)进行特定角度排列