文档介绍：03第三章电气设备绝缘预防性试验
1、电子式极化
电子轨道受到外电场的作用时，相对于原子核产生位移，原子中正、负电荷的作用中心不再重合.
极化强度与正、负电荷作用中心间的距离成正比，且随外电场的增强而增大。
特点
极化所需的时间极短 UIC
介质损失角的正切tgδ：衡量介质的损耗特性
液体介质损耗与温度的关系
气体介质的损耗
无碰撞电离时，损耗由电导引起，损耗极小；
发生放电时，损耗剧增（如电线上的电晕损耗 ）。
液体介质的损耗
中性或弱极性介质：
损耗主要起因于电导，较小。
极性：电导和极化损耗。
损耗与温度的关系比较复杂。
固体介质的损耗
分子式
离子式
不均匀结构
强极性
损耗情况比较复杂
损耗与温度密切相关
干纸的损耗与温度的关系
1－1kHz
2－10kHz
3－100kHz
四、电介质的一般等值电路
C0反映电子式和离子式无损极化（含真空中对应的电容）
C，、r支路反映有损极化
R反映电导损耗
绝缘
C0
C/
r
R
Cx
Rx
IRx
ICx
（a）
（b）
（c）
第二节 绝缘电阻的测量
一、多层介质的吸收现象
双层介质的等值电路
吸收曲线
当在绝缘上施加直流电压时，流经绝缘的电流会随着时间逐渐下降，最终达到一个稳定值，这就是不均匀介质的吸收现象
本质：夹层介质的界面极化
这些电荷被介质吸收了！
绝缘电阻
在设备绝缘上施加确定的直流电压，经过一定时间（通常为60秒）后呈现的电阻值。
吸收比
K=R60“／R15”
当绝缘良好时， K常高于某一定值（）
绝缘普遍受潮时， K接近1
极化指数
（10min/1min）
二、绝缘电阻和吸收比测量
手摇式兆欧表的工作原理
绝缘电阻的测量接线
仪器：兆欧表
兆欧表一般有三个接线端子
被试品接在端子“E”和“L”之间
保护端子“G”（与L相连）
有时称为屏蔽端子
输出电压为负极性直流（why?）
有500V、1000V、2500V、5000V等多个等级
三、测量结果的影响因素
被试设备绝缘上可能存留残余电荷
造成吸收现象不明显
试验前应对设备充分放电
固体绝缘表面状况
绝缘电阻随温度呈指数规律下降
测量时必须记录设备温度
实例：同步电机干燥前后绝缘电阻的变化
干燥前（受潮），15ºC
干燥完毕，ºC
运行3天，冷却后 27ºC
第三节 直流泄漏电流的测量
绝缘电阻和吸收比
测量简单易行，有时很有效：整体受潮等
试验电压相对较低，灵敏度和准确性较低
5000/（110×1000）
直流泄漏电流试验--提高试验电压
直接测量泄漏电流
因试验电压提高，试验灵敏度和准确性较高
试验设备要求提高
发电机的泄漏电流变化曲线
曲线1：绝缘良好的发电机；
曲线2：绝缘受潮；
曲线3：绝缘中已有集中性缺陷；
曲线4：有危险的集中性缺陷。
直流泄漏电流试验原理接线
直流泄漏电流试验和直流耐压试验常利用同一套直流高压发生装置同时进行。
Time?
1min
直流高压的产生方式与要求
产生
利用交流高压经高压硅堆半波整流
采用（多级）串级倍压整流电路 （实验讲义）
要求
直流试验电压的脉动系数应不大于3％
脉动系数＝[（最高值－最低值）/2]×100%
测量泄漏电流的影响因素
与绝缘电阻测量相同的影响因素
残余电荷
绝缘表面状况
设备温度
其它因素
外加直流电压的稳定性
测量微安表的保护和接入位置
高压引线引起的杂散电流带来的测量误差
R1 L
S
μA
C’
V
微安表保护回路
第四节 介质损失角正切值tgδ的测量
CX
Rx
当电气设备绝缘整体性能下降，如普遍受潮、脏污或老化，以及绝缘中有间隙发生局部放电时，流过绝缘的有功电流分量IRx将增大，tgδ也增大。
通过测量tgδ值可以发现绝缘的分布性缺陷。
若缺陷部分在整个绝缘中的体积较大，则测量tg 容易发现绝缘的缺陷。
如果绝缘缺陷是集中性的（非贯穿性的），或缺陷部分在整个绝缘中占很小的体积，则该方法不很有效。
套管、电力变压器、互感器和某些电容器。
电机、电缆。
一、西林电桥的测量原理
R4
C4
R3
CX
CN
C
D
A
B
G
Rx
当电桥平衡时，检流计中无电流流过，各臂阻抗满足关系式：
当电桥平衡时，C4的微法数就等于被试品的tgδ值。
在电桥的分度盘上，C4的数值直接以tgδ的百分数（％）来表示。
测量被试品的电容Cx对于判断某些绝缘状况也是有价值的。
问题：
电容量大了意味着什么故障？
电容量小了意味着什