文档介绍：AEC
深圳市亚科德电子有限公司
SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD.
材料检验规范手册
IC检验规范书
文件编号
版本号
修改号
生效日期
WI-QE-004
0
适用范围:
适用于我司各种封装功能的IC来料的检验。
缺陷判定的详细标准:
一、外观、尺寸缺陷判定的详细标准:
⑴表面可轻易擦净的污渍。(轻缺陷)
⑵表面不可轻易擦净的污渍。(重缺陷)
、破碎。(重缺陷)
、氧化。(重缺陷)
、模糊不清。(轻缺陷)
、尺寸不符。(重缺陷)
。(轻缺陷)
二、性能缺陷判定的详细标准:
Sensor类
⑴横条、白板、黑屏、黑点、花屏、无设备。(重缺陷)
⑵噪音点——参见我司《MI360检验规范》
Dsp类———————————————————————————(待定)
LDO类
⑴输出电压不符。(重缺陷)
⑵干扰大。(重缺陷)
检验设备:
操作台、镊子、放大镜、静电链、测试电脑、测试架、恒温烙铁、锡线、数字万用表
检验步骤:
外观丝印检验—>封装尺寸检验—>可焊性检验—>性能指标检验
目测
检验员佩带好静电链,手拿镊子取待检料,需重点目视:
⑴IC外形的清洁度、完整度;
⑵IC引脚的完整性、氧化状况;
将IC丝印朝上置于放大镜下70-80mm处,通过放大镜目视其丝印,需重点目视丝印的清晰度和准确性。
AEC
深圳市亚科德电子有限公司
SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD.
材料检验规范手册
IC检验规范书
文件编号
版本号
修改号
生效日期
WI-QE-004
0
注:以上检验可参照《检验规格书》上的封样。
卡尺量测
检