晶体管检验规范书.doc

文档介绍：AEC
深圳市亚科德电子有限公司
SHENZHEN AKKORD ELECTRONICS CO., LTD.
材料检验规范手册
晶体管检验规范书
文件编号
版本号
修改号
生效日期
WI-QE-004

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适用范围:
适用于我司各种封装二极管、三极管、发光管来料的检验。
缺陷判定的详细标准:
一、外观、尺寸缺陷判定的详细标准:
、变形、散乱。(轻缺陷)

⑴表面可轻易擦净的污渍。(轻缺陷)
⑵表面不可轻易擦净的污渍。(重缺陷)
、杂物、变形。(重缺陷)
、氧化。(重缺陷)
、模糊不清。(轻缺陷)
、尺寸不符。(重缺陷)
。(轻缺陷)
二、性能缺陷判定的详细标准:

正、反向电阻量不符。(重缺陷)

rbe不符。(重缺陷)

⑴额定工作电压不符。(重缺陷)
⑵不发光或发光有偏差。(重缺陷)
⑶发射管发射光谱不符。(重缺陷)
检验设备:
操作台、镊子、放大镜、电压源、LED测试架、万用表、LED测试机、测试电脑、暗箱
恒温烙铁、锡线
检验步骤:
外观丝印检验—>封装尺寸检验—>性能指标检验—>可焊性检验
目测
检验员取盘(袋)装,需重点目视其标贴、包装形式,以及编带的清洁度、完整性。
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晶体管检验规范书
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WI-QE-004

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2. 拆开编带手拿镊子取待检料,需重点目视:
⑴待检物料外形的清洁度、完整度;
⑵待检物料脚的完整性、氧化状况;
-80mm处,通过放大镜目视:
⑴丝印的清晰度、准确性;
⑵发光管胶体内部的清洁度、完整度;
注:以上检验可参照《检验规格书》上的封样。
卡尺量测
检验员需对照《检验规格书》上的“技术资料”及“技术图纸”量测的项目:
⑴待检物料外形的尺寸(长、宽或直径、高);
⑵待检物料引脚的尺寸(长、宽或直径、高、间距);