文档介绍：第3章原子发射光谱法
光谱半定量与定量分析
光谱半定量分析
光谱定量分析
Atomic Emission Spectrometry (AES)
光谱半定量分析
半定量分析法的依据:谱线的强度和谱线的出现情况与元素含量密切相关。
常用的半定量分析法是:谱线黑度比较法和谱线呈现
法等。
谱线黑度比较法
原理:样品中元素含量越高,谱线黑度越大。
将试样与一系列不同含量的标准样品在相同条件下摄谱于同
一块光谱感光板上;
然后用目视法与标准样品的对应谱线进行黑度对比;
若与某标准样品的谱线的黑度相等,则表明被测试样中欲测
元素的含量近似等于该标准样中待测元素的含量。
方法:
特点:简便易行,其准确度取决于被测样品与标准样品基
体组成的相似程度以及标准样品中欲测元素含量间隔的大小。
举例:分析黄铜中的铅含量。P99
谱线黑度比较法
原理:利用某元素出现谱线数目的多少来估计元素含量。
当试样中某元素含量较低时,仅出现少数灵敏线,随着该元
素含量的增加,谱线的强度逐渐增强,而且谱线的数目也相
应增多,一些次灵敏线与较弱的谱线将相继出现。
谱线呈现法
方法:
预先配制一系列浓度不同的标准样品,在一定条件下摄谱,
然后根据不同浓度下所出现的分析元素的谱线及强度情况
列出一张谱线出现与含量的关系表--即谱线呈现表。根据
某一谱线是否出现来估计试样中该元素的大致含量。
Pb/%
谱线及其特征

1
;
;
上述各线增强;

上述各线均增强,不出现新谱线
;
上述各线增强;、;
举例:分析铅含量。
特点:简便快速,但其准确度受试样组成与分析条件
影响较大。
其他分析方法:采用均称线对法或阶梯感光板法等。
谱线呈现法
光谱定量分析
谱线的自吸与自蚀
自吸效应:
当光源中心部位(a)原子发射所产生的光子通过温度较低的外层(b)时,可以被外层基态原子所吸收;而使谱线中心减弱。
自吸现象可用朗伯-比尔定律表示:
I=I0e-adc
I: 射出弧层后的谱线强度;
I0:弧焰中心发射的谱线强度;
a:吸收系数;
d:弧层厚度;
c:吸光原子浓度
I0越大,自吸系数越大,自吸越严重;d越厚,c越大,自吸越严重。
自蚀:严重的自吸会使谱线从中央一分为二,即自蚀。

产生自蚀的原因:
发射线的宽度>吸收线的宽度,谱线中心的吸收程度>边缘部分