文档介绍：实验十一组合逻辑电路
一、实验目的
1. 掌握组合逻辑电路的功能测试。
2. 验证半加器和全加器的逻辑功能。
3. 学会二进制数的运算规律。
二、实验设备及及器件
现代电子技术实验台 1套
器件:
74LS00 二输入端四与非门 3片
74LS86 二输入端四异或门 1片
三、实验原理
实现两个一位二进制数加法运算的电路称为半加器。若将A、B分别作为一位二进制数,S表示A、B相加的“和”,C是相加产生的“进位”,半加器的真值表如下:
半加器真值表
半加器逻辑图及其逻辑符号
&
对两个一位二进制数及来自
低位的“进位”进行相加,产生本
位“和”及向高位“进位”的逻辑电
路称为全加器,真值表如下。
其中Ai、Bi分别是被加数、加数,
Ci–1是低位进位,Si为本位全加
和,Ci为本位向高位的进位。
全加器真值表
由真值表直接写出逻辑表达式,化简得:
所示逻辑电路。为便于接线和
检查,在图中要注明芯片编号
及各引脚对应的编号。
(2) 图中 A、B、C接电平开关,Y1,Y2接发光管电平显示。
(3) ,改变A、B、C的状态填表并写出 Y1,Y2
逻辑表达式。
三、实验内容及步骤
1. 组合逻辑电路功能测试
1
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8
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11
&
1
2
3
6
4
5
(4)将运算结果与实验比较。
G1
G2
G4
G3
G5
G6
表
输入
输出
A
B
C
Y1
Y2
0
0
0
0
0
1
0
1
1
1
1
1
1
1
0
1
0
0
1
0
1
0
1
0
2. 测试用异或门和与非门组成的半加器的逻辑功能
由半加器的逻辑表达式可知,半加器 Y是 A、B的异或,而进位 Z是 A、B相与,。
1
2
3
1
2
3
4
5
6
Y
Z
B
A
=1
&
&
(2) 、B状态,结果填入表中。
(1) 在实验台上用异或门74LS86和与非门74LS00接成以上电路。 A、B接电平开关S,Y、Z接电平显示。
输入
A
0
1
0
1
B
0
0
1
1
输出
Y
Z
3. 测试全加器的逻辑功能。
(1) 。
&
&
&
&
&
&
&
&
&
Ci-1
Ai
Bi
X2
X3
Y
Si
Ci
X1
1
2
3
(2) 。
Ai
Bi
Ci-1
Y
Z
X1
X2
X3
Si
Ci
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
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0
0
1
0
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1
1
0
1
1
1
1
(3) 根据真值表画出逻辑函数Si、 Ci的卡诺图。
(4) 按原理图选择与非门并接线进行测试,,并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。
1
1
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0
1
1
1
0
1
0
0
0
1
1
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1
0
1
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0
0
0
Si
Ci
Ci-1
Bi
Ai