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面板单位根检验理论最新发展.doc

上传人:1006108867 2013/12/4 文件大小:0 KB

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面板单位根检验理论最新发展.doc

文档介绍

文档介绍:面板单位根检验理论的最新发展
黄旭平1, 厉伟2
(,江苏南京 210093,, 江苏南京 210098)
内容摘要:本文综述近期(1995-2005)面板单位根检验理论分析。理论发展是从部门独立的单位根检验到部门依赖单位根检验。同时部门独立的单位根检验又是从微观面板即同质面板单位根发展到异质面板单位根检验。面板数据的不稳定性导致的伪回归、协整检验及协整方程估计,尤其是部门依赖的协整检验及估计是一个重要的有待解决的问题。
关键词:面板面板单位根面板协整
引言
面板数据分析已经成为计量经济学分析的一个重要工具。面板数据分析方法也不断发展,其中最为突出的两个重大领域:面板单位根检验与面板协整检验。本文主要分析前者的理论发展脉络,为实证研究提供最新的计量理论基础。后者,笔者有另文详细综述。目前国内研究面板单位根检验比较少,在此背景下,对该理论做一个综述是很有必要的。有少数文献涉及到这一问题,例如:1、李志宏:面板数据单位根检验的简明蒙特卡洛实验框架,数量经济技术经济研究,2004年11期2、汪涛、饶海斌、王丽娟:Panel Data分析的理论和应用发展综述。anced/papers/Panel%。
面板单位板检验及应用已经成为一个重要研究热点,并日益成为学者关注的方向。随着运用跨价、经济增长收敛和国际研究开发的溢出效应等相关领域深入发展,面板数据分析已经从最初的数目众多的跨期,较少的时间数据结构(微观面板)转化为数目众多的跨期,而且也有相当长时间序列的数据结构(宏观面板)。较长时间序列的出现,为面板数据分析提供了两个重要的研究方向,即面板数据序列的稳定性及数据序列长期均衡性。换句话说,面板数据分析进入两个重要的新方向:面板单位根及面板协整。长期时间序列和众多跨期面板数据产生两种后果:一个是回归系数从同质向异质系数变化;另一个是数据序列的不稳定性,回归偏误和协整。遵循这种数据结构的变化,面板单位根的检验也从最初的同质面板单位根检验,发展到异质面板单位根检验,再到同时检验同质与异质面板单位根检验。同时这些检验都是假设部门是独立的,放松假设就是单位根检验的最新发展方向。
以此为基础,后文综述首先介绍部门独立时单位根检验理论发展。然后介绍部门依赖时单位根检验理论的发展。
面板单位根检验都是采用显著性检验法。显著性检验法是利用样本结果,来证实一个虚拟假设真伪的一种检验程序。显著性检验的基本思想在于一个检验统计量(作为估计量)以及在虚拟假设下,这个统计量的抽样分布。根据手中数据算出的统计量决定是否接受原假设。所以各种面板单位根检验关键在于获得检验统计量的分布函数。基于此,后文所有面板单位根检验方法介绍都遵循这种逻辑。
本文结构如下:第一部分是部门独立面根单位根检验理论;第二部分是部门依赖面板单位根理论;第三部分是面板单位根理论的应用。第四部分是面板单位根理论存在的问题及未来的发展方向。
一、部门独立的面板单位根检验理论
由引言可知,面板单位根检验理论首先是假定部门是独立的,也就是说各部门的残差是独立的,互相没有影响。这方面的理论发展又是依照微观面板数据到宏观面板思路,所以我们首先综述微观面板(同质面板)单位根检验理论,然后介绍异质面板单位根检验。有关Panel Data单位根研究的主要成果见Levin和Lin(1992,1993)、Quah(1994)、Im等(1997)、Maddala和Wu(1999)、Phillips&Moon(1999)、Bbreitung(2000)、Im、Pesaran和Shin(IPS检验)(2003)、Chio(2001)、Hadr (2000)、Paul ’Connell(1998)、Yoosoon Chang(2002) Westerlund (2005)的文献。
(一)、同质面板单位根检验
levin、lin&Chu Panel Unit Root Test Levin, A. , C. Lin and C. Chu (2002) Unit Root Tests in Panel Data: Asymptotic and Finite-Sample Properties. Journal of Econometrics, 108, 1-24.
Levin、Llin&Chu(2002)的检验方法允许不同截距及时间趋势,异方差及高阶序列相关,最适合于中等维度(部门数10-250,时间数25-250)的面板分析。
假定如下:
公式 1
误差过程是部门独立的并且有一稳定的可逆的ARMA过程:
公式 2
公式 3
在此假定下面板单位根检验假设如下
模型1 原假设:备择假设: