文档介绍：分类号学号 M200970280
学校代码 10487 密级
硕士学位论文
基于白光干涉的触针式表面粗糙度
测量技术的研究
学位申请人:杨波
学科专业:机械电子工程
指导教师:常素萍讲师
谢铁邦教授
答辩日期:2012 年 1 月 9 日
A Thesis Submitted in Fully Fulfillment of the Requirements
for the Degree of Master of Engineering
Research on Surface Roughness Measurement Based on
White Light Interferometry and Stylus
Candidate : Yang Bo
Major : Mechatronic Engineering
Supervisors : Instructor Chang Suping
Prof. Xie Tiebang
Huazhong University of Science & Technology
Wuhan, Hubei 430074, P. R. China
January, 2012
独创性声明
本人声明所呈交的学位论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及
取得的研究成果。尽我所知,除文中已经标明引用的内容外,本论文不包含
任何其他个人或集体已经发表或撰写过的研究成果。对本文的研究做出贡献
的个人和集体,均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声明的法律
结果由本人承担。
学位论文作者签名:
日期: 年月日
学位论文版权使用授权书
本学位论文作者完全了解学校有关保留、使用学位论文的规定,即:学
校有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版,允许论文
被查阅和借阅。本人授权华中科技大学可以将本学位论文的全部或部分内容
编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存和汇
编本学位论文。
本论文属于保密□,在年解密后适用本授权书。
不保密□。
(请在以上方框内打“√”)
学位论文作者签名: 指导教师签名:
日期: 年月日日期: 年月日
华中科技大学硕士学位论文
摘要
表面粗糙度是零件加工的重要技术参数,影响着零件的强度、润滑、配合等性能,
对产品质量控制、加工工艺研究、材料性能研究等都有着十分重要的意义。随着超精密
加工技术的迅速发展,超精密表面越来越多地出现在现代高科技技术和产业中,其表面
粗糙度测量需要纳米级的横向分辨率。传统的触针法和干涉法的横向分辨率不高,而扫
描探针显微镜虽然具有极高的横向分辨率,但其计量特性差,都难以用于超精密表面的
粗糙度测量。为此,本文研究了基于白光干涉的触针式表面粗糙度测量技术,包括用于
超精密表面的原子力探针测量方法和用于工程表面的金刚石触针测量方法。
研究了基于白光干涉的原子力探针测量方法,设计了显微干涉系统、扫描系统和原
子力探针测头,编写了测量程序。该方法能达到横向分辨率 2nm,纵向分辨率 1nm,水
平测量范围 0~60μm,单视场垂直测量范围 0~2μm。
研究了基于白光干涉的金刚石触针测量方法,设计了金刚石触针测头。该方法与原
子力探针测量方法共用测量系统,较好地实现了多功能集成,能达到纵向分辨率 10nm,
水平测量范围 0~30mm,垂直测量范围 0~20μm。
通过实验对测量系统的示值误差、重复性、稳定性等性能进行了测试和验证,并对
典型样品进行了测量。实验结果表明该技术能应用于超精密表面和工程表面的粗糙度测
量。
关键词:白光干涉原子力探针金刚石触针表面粗糙度
I
华中科技大学硕士学位论文
Abstract
Surface roughness is an important technology parameter in parts machining, it affects
strength, lubrication and fitting of parts, and it plays a significant role in production quality
control, processing technic research and material performance research. With the rapid
development