文档介绍:北邮电磁场与电磁波测量实验报告5-信号源-波导波长
北京邮电大学
电磁场与电磁波测量实验
实验报告
实验内容:微波测量系统的使用和信号源波长功率的测量
波导波长的测量
学院
平均误差:
表1 信号源波长测量表
实验二 波导波长的测量
一.实验内容
波导波长的测量
【方法一】两点法
实验原理如以下图所示:
按上图连接测量系统,可变电抗可以采用短路片。
可变衰减器
微 波
信 号 源
波长表
选 频
放 大 器
可变电抗
隔离器
测量线
当矩形波导〔单模传输TE10模〕终端〔Z=0〕短路时,将形成驻波状态。波导内部电场强度〔参见图三之坐标系〕表达式为:
在波导宽面中线沿轴线方向开缝的剖面上,电场强度的幅度分布如图三所示。
将探针由缝中插入波导并沿轴向移动,即可检测电场强度的幅度沿轴线方向的分布状态〔如波节点和波腹点的位置等〕。
终端短路面
0
图 三
Z
X
a
Y
b
两点法确定波节点位置
将测量线终端短路后,波导内形成驻波状态。调探针位置旋钮至电压波节点处,选频放大器电流表表头指示值为零,测得两个相邻的电压波节点位置〔读得对应的游标卡尺上的刻度值和〕,就可求得波导波长为:
由于在电压波节点附近,电场〔及对应的晶体检波电流〕非常小,导致测量线探针移动“足够长〞的距离,选频放大器表头指针都在零处“不动〞〔实际上是眼睛未觉察出指针有微小移动或指针因惰性未移动〕,因而很难准确确定电压波节点位置,具体测法如下:
把小探针位置调至电压波节点附近,尽量加大选频放大器的灵敏度〔减小衰减量〕,使波节点附近电流变化对位置非常敏感〔即小探针位置稍有变化,选频放大器表头指示值就有明显变化〕。记取同一电压波节点两侧电流值相同时小探针所处的两个不同位置,那么其平均值即为理论节点位置:
最后可得〔参见图四〕
图 四
【方法二】 间接法
矩形波导中的H10波,自由波长λ0和波导波长满足公式:
其中:,
通过实验测出波长,然后利用仪器提供的对照表确定波的频率,利用公式
λ0=cf
确定出λ0,再计算出波导波长。
校准晶体二极管检波器的检波特性
由于微波晶体检波二极管的非线性, 在不同信号幅度时具有不同的检波律。在一般测量精度要求的场合, 可认为在小信号时为平方律检波,大信号时为直线律检波, 或在系统信号幅度范围内做平均检波律定标。晶体检波二极管的定标准确与否, 直接影响微波相关参数的测量精度。
微波频率很高, 通常用检波晶体(微波晶体二极管)将微波信号转换成直流信号检测出来。微波晶体二极管是一种非线性元件, 检波电流I 同微波场强E 之间不是线性关系,在一定范围内, 两者关系为:
晶体检波二极管的检波电流随其微波电场而变化, 当微波场强较大时近似为线性检波律, 当微波场强较小时近似为平方检波律。因此, 当微波功率变化较大时a 和k 就不是常数, 且和外界条件有关, 所以在精密测量中必须对晶体检波器进行定标。
本实验中采用两种定标方法
第一种定标方法
检波电压U 与探针的耦合电场成正比。晶体管的检波律n 随检波电压U 改变。在弱信号工作〔检波电流不大于10 μA〕情况下,近似为平方律检波,即n=2;在大信号范围,n 近似等于1,即直线律。
测量晶体检波器校准曲线最简便的方法是将测量线输出端短路,此时测量线上载纯驻波,其相对电压按正弦律分布,即:
式中 ,d 为离波节点的距离,Umax为波腹点电压,λg 为传输线上波长。
因此,传输线上晶体检波电流的表达式为
根据上式就可以用实验的方法得到图所示的晶体检波器的校准曲线。
将上两式联立, 并取对数得到:
作出曲线, 假设呈现为近似一条直线, 那么直线的斜率即是微波晶体检波器的检波律。
第二种定标方法
测量线