文档介绍：用于检查工件的方法和设备的制作方法
用于检查工件的方法和设备的制作方法
描述了用于在维度测量设备如坐标测量机(12-20)上测量一系列名义上相同的生产工件(10)的方法。校准所述一系列名义上相同的生产工件(10)中的一个标准工件(84)不同形状的工件和/或位于所述设备的工作体积的不同部分中的工件上进行精确的测量和/或采用不同的测量速度进行精确的测量的话，则需要进一步的校准。要么美国专利No. 7, 079, 969中所描述的程序必须在每次准备测量新的工件时重复，要么必须产生整个机器的统计误差和/或动态误差的图。
[0011] 本申请人:的共同待决国际专利申请No. W0 2013/021157描述了其中根据测量的温度产生一个或者多个误差图、查找表或函数的方法和设备。优选的是，这针对在两个或者更多个温度的测量来进行。在所述温度中的每一个温度测量标准制品（master artefact) 或者参考工件。这些误差图、查找表或函数对在所述标准制品或参考工件以及名义上相同的随后工件上实际进行的测量具有特异性。
【发明内容】
[0012] 本发明的一个方面提供了一种用于在维度测量设备上测量生产工件的方法，所述方法包括：
[0013] 获取生产工件，该生产工件是通过生产工艺生产的第一系列名义上相同的工件中的一个工件；
[0014] 在所述测量设备上测量所述生产工件；
[0015] 从所述测量设备的外部来源获得针对所述生产工件的校准值；
[0016] 将所述校准值与所述工件的测量结果进行比较以产生一个或者多个校正值；
[0017] 使用所述校正值来填充（populate)或再次填充（repopulate)误差图或查找表或者来计算或再次计算误差函数，以校准所述测量设备；
[0018] 在所述测量设备上测量通过所述生产工艺生产的所述第一系列的一个或者多个另外的名义上相同的工件；
[0019] 使用所述校正值或所述误差图或查找表或误差函数来校正所述第一系列的所述另外的名义上相同的工件；
[0020] 其特征在于，在所述测量设备上测量一个或者多个第二工件，其中所述一个或者多个第二工件不同于或者在所述设备上的定位不同于所述第一系列的工件中的所述名义上相同的工件；以及
[0021] 使用所述误差图或查找表或误差函数来校正所述一个或者多个第二工件的测量。
[0022] 所述第一系列的所述生产工件可以拟用于结合到制造产品中。在本发明的一个替代方面，可以使用具有与所述生产工件相近似或相匹配的特征的制品来代替首次提及的所述生产工件。这些特征可以与所述生产工件的相应特征相近似或相匹配。所述校正值和/ 或校准值可以与和所述生产工件相近似或相匹配的特征相关。
[0023] 由于涉及到这些工件的特定系列，因此，所述制品将区别于已知用于校准测量设备如坐标测量机的标准的通用校准制品（例如经校准的球体或环规）。所述标准的校准制品被特别制造来用于测量设备的通用校准，与具体生产工件不相关。一般来说，生产工件是这样的物品，其维度将通过在测量设备上进行的测量来确定，而标准校准制品的维度是预先知道的以对设备进行校准。
[0024] 校准值可以通过在例如更精确的CMM、圆度测量机