文档介绍：存储器测试方法
第六章存储器(在/离线)功能测试
请首先熟悉第四章。和第四章内容相同的部分不再说明。
存储器分为只读存储器(PROM/EPROM)测试和读写存储器(SRAM/DRAM)测试。
通过本功能,可对器件库中包含其型号的器件,按照库中所定义的功能,直接进行功能测试。库中没有其型号的器件不能测试。
本功能要给电路板或器件加电。HN1600测试仪的数字通道支持5V逻辑,HN2600测试仪的数字通道支持5V、12逻辑任何非法电平,都可能损坏本测试仪。
存储器的测试方式
快速测试:从存储器的全部地址空间中,按一定算法选取其中若干单元进行测试。
完全测试:测试存储器所有单元。
界面及各参数含义说明
存储器测试界面
功能图标说明
RAM器件“离线完全”测试;
RAM器件“在线快速”测试;
RAM器件“在线完全”测试;
PROM器件“离线”空白检测;
“离线”状态下“完全读取”(学习)PROM器件中的内容;
“离线”状态下“完全比较”(测试)PROM器件中已读取的内容;
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参数的含义说明显示已“离线完全读取”PROM器件中的内容;
将“离线完全读取”PROM器件中的内容,转换成“二进制”文件(*.bin);
“在线”状态下,“快速读取”PROM器件中的内容;
“在线”状态下,“快速比较”PROM器件中“快速读取”的内容;
显示已“在线快速读取”PROM器件中的内容;
“在线”状态下,“完全读取”PROM器件中的内容;
“在线”状态下,“完全比较”PROM器件中“完全读取”的内容;
显示已“在线完全读取”PROM器件中的内容;
将“在线完全读取”PROM器件中的内容,转换成“二进制”文件(*.bin);
PROM数据库整理,
、阈值电平、测试速度、使用外接电源或手动加电、加电延迟、开始(按钮)与逻辑器件测试相同。。

用于指定将已经读取的“只读存储器”(PROM)中的内容,转换成可以通过“编程器”烧写的“二进制”代码的“文件名称”;它仅用于“只读存储器在/离线完全学习(读取)库内容转换”功能操作上。
读写型存储器(SRAM/DRAM)的测试
采用“读/写/比较”的方式,直接对存储器进行测试,该类存储器不存在“学习”的过程。
SRAM/DRAM在线测试

在线时推荐使用快速测试方式。在线快速测试中测试通过的RAM器件,多数情况下功能正确;仅在某些特殊情况下,才有必要用在线完全测试再进一步确认。

点击开始后,显示当前被测单元数和单元总数。比如:
单元总数:0002000
测试结果:通过!
如果这一变化过程在中途停止,即当前测试单元数尚未到达单元总数就停止,说明该单元有问题,比如:
××器件测试未通过!
注意:完全测试推荐使用离线测试。
RAM离线完全测试
离线测试是在线测试的一种特例。
点击开始,自动进行RAM离线完全测试并显示当前被测单元数和单元总数。最后给出测试结果。比如: