文档介绍：动态光散射基本原理及其在纳米科技中的应用——Zeta电位测量
前言:Zeta电位是纳米材料的一种重要表征参数。现代仪器可以通过简便的手段快速准确地测得。大致原理为:通过电化学原理将Zeta电位的测量转化成带电粒子淌度的测量,而粒子淌度的测量测是通过动态光散射,运用波的多普勒效应测得。
(图1)
        粒子表面存在的净电荷,影响粒子界面周围区域的离子分布,导致接近表面抗衡离子(与粒子电。荷相反的离子)浓度增加。于是,每个粒子周围均存在双电层。围绕粒子的液体层存在两部分:一是内层区,称为Stern层,其中离子与粒子紧紧地结合在一起;另一个是外层分散区,其中离子不那么紧密的与粒子相吸附。在分散层内,有一个抽象边界,在边界内的离子和粒子形成稳定实体。当粒子运动时(如由于重力),在此边界内的离子随着粒子运动,但此边界外的离子不随着粒子运动。这个边界称为流体力学剪切层或滑动面(slippingplane)。在这个边界上存在的电位即称为Zeta电位。
(DLVO理论)
    在1940年代Derjaguin, Landau, Verway与Overbeek 提出了描述胶体稳定的理论,认为胶体体系的稳定性是当颗粒相互接近时它们之间的双电层互斥力与范德瓦尔互吸力的净结果。此理论提出当颗粒接近时颗粒之间的能量障碍来自于互斥力,当颗粒有足够的能量克服此障碍时,互吸力将使颗粒进一步接近并不可逆的粘在一起。(图2)
        Zeta电位可用来作为胶体体系稳定性的指示:
如果颗粒带有很多负的或正的电荷,也就是说很高的Zeta电位,它们会相互排斥,从而达到整个体系的稳定性;如果颗粒带有很少负的或正的电荷,也就是说它的Zeta电位很低,它们会相互吸引,从而达到整个体系的不稳定性。
一般来说, Zeta电位愈高,颗粒的分散体系愈稳定,水相中颗粒分散稳定性的分界线一般认为在+30mV或-30mV,如果所有颗粒都带有高于+30mV或低于-30mV的zeta电位,则该分散体系应该比较稳定
    分散体系的Zeta电位可因下列因素而变化:
A. pH 的变化
B. 溶液电导率的变化
C. 某种特殊添加剂的浓度,如表面活性剂,高分子
测量一个颗粒的zeta势能作为上述变量的变化可了解产品的稳定性,反过来也可决定生成絮凝的最佳条件。
Zeta电位与pH(图3)
        影响zeta电位最重要的因素是pH,当谈论zeta电位时,不指明pH根本一点意义都没有。
假定在悬浮液中有一个带负电的颗粒;
假如往这一悬浮液中加入碱性物质,颗粒会得到更多的负电;
假如往这一悬浮液中加入酸性物质,在一定程度时,颗粒的电荷将会被中和;
进一步加入酸,颗粒将会带更多的正电。
       Zeta电位对pH作图在低pH将是正的,在高pH将是负的,这中间一定有一点会通过零zeta电位,这一点称为等电点,是相当重要的一点,通常在这一点胶体是最不稳定的。
Zeta电位与电导率
双电层的厚度与溶液中的离子浓度有关,可根据介质的离子强度进行计算,离子强度越高,双电层愈压缩同,离子的化合价也会影响双单层的厚度,三价离子(Al3+)将会比单价离子(Na+)更多