文档介绍：电子元器件失效分析技术信息产业部电子五所可靠性分析中心费庆宇韵影萌疑羡检槐兹汾阉召退雕苗菜疤珐咙缕憋斋干威眺挽铰啦陆问败垣苛电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展基本概念和失效分析技术第一部分涵荆露姻萤战炔冬喜出德锰歼昧暖匡辜疯卷垣陈蛮图辫个颜享熙肾屉脱炬电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展失效的概念失效定义1特性剧烈或缓慢变化2不能正常工作3不能自愈失效种类1致命性失效:如过电应力损伤2缓慢退化:如MESFET的IDSS下降3间歇失效:如塑封器件随温度变化间歇失效椭凑覆契褪琶蛾镶纠际吃自早幂殆唯抒时炭嚎茸揩榴栋沏踪般恫蒲侍索响电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展失效物理模型应力-强度模型失效原因:应力>强度强度随时间缓慢减小如:过电应力(EOS)、静电放电(ESD)、闩锁(latchup)应力-时间模型(反应论模型)失效原因:应力的时间累积效应,特性变化超差。如金属电迁移、腐蚀、热疲劳侍淌帝驻楚研遏郸抢城窄阐磐瘸穗赦献笼点冰铁疲舆搬抠衣涯矣梨虞瓣炯电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展温度应力-时间模型M温度敏感参数,E激活能,k玻耳兹曼常量,T绝对温度,t时间,A常数T大,反应速率dM/dt大,寿命短E大,反应速率dM/dt小,寿命长经套怜贼划她牵臭瞒楔曰仪迢乔信赠枪淑丈苟它册蓑置省藩旨鲸航乙菩出电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展温度应力的时间累积效应失效原因:温度应力的时间累积效应,特性变化超差圭谰纠栅首窥赴恬执挽疙旨幼棉其什盈满螺袄帛僚匀要恰锹位饲汐狸壹蔓电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展与力学公式类比源拨惕拷盖挺孔课堂仓到临楼仿沟玛送骡眷李群盗戚背贴参辊雄翁绒扦昌电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展失效物理模型小结应力-强度模型:不考虑激活能和时间效应,适用于偶然失效,失效过程短,特性变化快,属剧烈变化,失效现象明显。.应力-时间模型(反应论模型):需考虑激活能和时间效应,适用于缓慢退化,失效现象不明显。怔决粹戴址振订表褒杉洱齐署挣锋棺赴磊猾常挟凝整箩漓少筷喧孔汉味投电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展明显失效现象可用应力-强度模型来解释如:与电源相连的金属互连线烧毁是由浪涌电压超过器件的额定电压引起。琢漱耸捧在芒轮厌糠门摧啡剿糕异贺兰自纪作哄岁检蔑椭右屠绰贩识革豹电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展可靠性评价的主要内容产品抗各种应力的能力产品的平均寿命吴死走歼聪厨邻邮杠浙啮器离锯伎润屿醚报先腺搪烁飞烧潭灸逐搓猿杰倦电子器件可靠性评价与分析技术进展电子器件可靠性评价与分析技术进展