精神分裂症不同亚型的脑电图对照研究.doc

文档介绍：精神分裂症不同亚型的脑电图对照研究
【摘要】目的研究精神分裂症两个不同亚型(缺陷型与非缺陷型)患者在脑电图(EEG)方面的差异。方法采用国产SOLAR1814型16道数字EEG仪对109例精神分裂症患者进行标准EEG描记,对其结果进行分析,并对异常脑电图的相关因素进行分析研究。结果缺陷型精神分裂症的EEG异常率明显高于非缺陷型精神分裂症,且异常程度重,二者有显著性差异(P<)。结论提示缺陷型与非缺陷型精神分裂症患者相比,缺陷型患者有更明显的病理性生物学基础。
【关键词】精神分裂症缺陷型非缺陷型脑电图
近年来,精神分裂症的生物学研究在多领域取得了较大突破。自Carpanter提出缺陷综合征的概念并将精神分裂症划分为缺陷型与非缺陷型以来,许多学者已对其进行了深入研究。发现缺陷型与非缺陷型之间存在许多临床差异[]。证明了缺陷型具有更多的神经系统软体征,示缺陷型精神分裂症的脑器质性改变更为明显[]。一般而言,EEG是脑细胞功能的最直接反应[4]。为了进一步证明这种关系的存在,我们对109例住院精神分裂症患者EEG进行了对比分析。
1 对象与方法
研究对象 MD—3关于精神分裂症的诊断标准的患者109例。既往无癫痫、头外伤、中毒、脑梗塞及神经系统疾病;能配合脑电图检查;109例均为男性。使用Carpenter关于缺陷型综合征的诊断标准对入组病人进行诊断[5],结果:缺陷型50例,平均年龄(
±)岁,平均病程(±)年,平均用药剂量(±)mg(氯丙嗪等值量);非缺陷型59例,平均年龄(±11)岁,平均病程(±)年,平均用药剂量(±)mg(氯丙嗪等值量)。两组年龄、病程及用药剂量无显著差异(P>)。
EEG检查方法采用国产SOLAR1814型16道数字EEG仪,按国际10/20系统安放头皮电极,在视屏监视下,患者在清醒、安静、闭目状态下接受常规EEG描记,时间20-30min。常规进行睁闭眼反应和60岁以下做过度换气3min诱发试验。所有异常病例均定期复查2—3次EEG,复查间隔时间为2个月。参照冯应琨诊断标准[6]将EEG结果划分为正常、轻度异常、中度异常、重度异常。
,对计量资料采用t检验,计数资料采用χ2检验,以P<。
2 结果
两组EEG异常率及程度
缺陷型组:轻度异常18例(%),中度异常9例(%),重度异常3例(%),总异常30例(%)。非缺陷型组:轻度异常10例(%),中度异常3例(%),总异常13例(%),%。两组比较,缺陷型组异常率明显高于非缺陷型组,两组比较差异有极显著意义(P<)。
两组EEG异常特征
两组异常EEG在表现形式上无明显差异和特异性。轻度异常主要表现为:背景脑电图波形不稳定、波幅变低、基本节律变慢(约8-9Hz),低中幅快波活动增多,无优势频带,各波形(
а、β、θ)不规则出现并呈弥漫性分布,无明显的调幅现象,对睁闭眼、过度换气诱发实验缺乏反应或反应不稳定。中度异常主要表现为: