文档介绍：上海交通大学
硕士学位论文
深亚微米集成电路可测性设计及其综合的研究
姓名:罗春桥
申请学位级别:硕士
专业:电路与系统
指导教师:林争辉
20020101
深业微米集成电路可测性设计及其综合的研究摘要随着深亚微米集成电路时代的来临,数字电路的可测性越来越显现出他的重要性,而且正在作为一个不断发展的领域独立出来。本文对数字集成电路的可测性设本文首先介绍了组合逻辑电路的测试方法,一般是基于故障模拟的寻找测试码的方法,这里介绍了惴ǎ约坝善浞⒄苟吹腜算法和惴ā7侨余的组合逻辑电路总是能用此法找到给定故障的测试码的。而对于含有记忆元件的时序电路,由于电路的输出不仅跟当前输入有关,而且还跟过去的输入也有关,按照一般的故障模拟方法测试将是一件非常耗时而繁重的工作。我们介绍了基于扫描的测试方法,扫描链的选择和建立是一项比较关键的技术,直接关系着测试性能和电路的系统性能。我们提出了一些有效的扫描路径设计测试技术是目前发展比较迅速的可测性设计方法,我们从原理和结构上对此作了全面分析,最后提出了一种矩阵扫描的结构方法,可供测试及故障诊断用。传统的基于电路输出电压的逻辑观察的测试技术在深亚微米集成技术条件下不足以满足越来越多的集成电路产品的低故障漏检率要求。于是,寻找电压测试技术的对偶方法来捕获从逻辑观察法中漏检的故障变得非常具有现实意义。我们介绍了一种电流测试法,即2馐苑ā1疚亩哉庵址椒ǖ脑砩钊敕治觯钥刹夤收虾测试方案作了详细阐述。在电路物理参数不断缩小的情况下,电路的静态耗损电流也增加,这对钡试方法是一大挑战。本文给出了一些电流控制方法,以及灵活运用钡试方法的技巧。可测性设计的重要性与日俱增,将其纳入自动化设计流程是迫切所需。本文对逻辑综合作了介绍,分析了目前常用的综合系统中用的数据结构咛逖芯苛计作了深入研究。技术,并且分析了它们的特点和一些设计中要权衡考虑的因素。基于扫描的内建自申请上海交通大学硕士学位论文
由成渎呒诺缏返募际酰⑻岢隽艘恢职凑障喙匦栽蚶囱∪”淞克承虻挠通过在电路综合中将测试策略考虑进去的方式,可以影响着逻辑综合过程的行为,可将由于测试而带来的额外花费降低,这就是可测性综合。我们研究了将可测性设计纳入综合系统的具体方法,并论述了几种可测性设计方案自动综合实现的技由于电路的网表信息最终是在逻辑综合后确定下来的,所以逻辑综合过程的电路信息对电路的测试是非常重要的。我们对电路的可测性作了定性分析,能以很小的代价获得对可测性的控制,保证最终实现的电路完全可测,或达到规定的故障覆盖率。关键字可测性设计,扫描,内建自测试,。术。摘要
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罗后啊日期:沙年乙月上海交通大学学位论文原创性声明本人郑重声明:所呈交的学位论文,是本人在导师的指导下,独立进行研究工作所取得的成果。除文中已经注明引用的内容外,本论文不包含任何其他个人或集体已经发表或撰写过的作品成果。对本文的研究做出重要贡献的个人和集体,均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声明的法律结果由本人承担。学位论文作者签名:
日雹祝年瓻罗令瞄保诧皆凇坏饷芎笫视帽臼谌ㄊ椤埤着杯上海交通大学学位论文版权使用授权书一彤每如本学位论文作者完全了解学校有关保留、使用学位论文的规定,同意学校保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版,允许论文被查阅和借阅。本人授权上海交通大学可以将本学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存和汇编本学位论文。本学位论文属于不保密口。朐谝陨戏娇蚰诖颉啊獭指导教师签名:名者文酡位学日月签亭期勿
第一章绪论随着集成电路规模的飞速增长,电路的逻辑设计和电路逻辑的测试越来越显现出他的重要性,而且正在作为一个不断发展的领域独立出来【俊9赜诘缏返穆呒断和测试方面的文献早在五十年代就已经有了,那时的测试主要是检测逻辑电路产品是否正常工作,也作为一种手段来找出生产过程中的弊端。进入六十年代,在当时技术条件下,逻辑电路实现了大规模化,也就是大规模集成电路。由于电路的尺寸和复杂性都大大增加了,这使得测试工作变得更加困难,那时已意识到测试将成为集成电路大规模生产发展中的一个关键性的环节,这时国际上也出现了一些专门针对测试问题进行研究的机构和一些国际会议。到七十年代,就有大量有关测试方面的研究论文不断发表讨论。对于组合电路的测试,也产生了许多优秀的算法,应用的技术主要有布尔差分法,单路径敏化法,算法,惴ǎ現算法】。近几年,测试码模式的生