文档介绍：丝△期:丝:』:苏州大学学位论文独创,生声明本人郑重声明:所提交的学位论文是本人在导师的指导下,独立进行研究工作所取得的成果。除文中已经注明引用的内容外,本论文不含其他个人或集体已经发表或撰写过的研究成果,也不含为获得苏州大学或其它教育机构的学位证书而使用过的材料。对本文的研究作出重要贡献的个人和集体,均已在文中以明确方式标明。本人承担本声明的法律责任。论文作者签名:日,,●一
互型坠丝瞧年一月解密后适用本规定。苏州大学学位论文使用授权声明期:狸』汗ぃ&期:薣:.【::盈熏非涉密论文巧本人完全了解苏州大学关于收集、保存和使用学位论文的规定,。即:学位论文著作权归属苏州大学。本学位论文电子文档的内容和纸质论文的内容相一致。苏州大学有权向国家图书馆、中国社科院文献信息情报中心、中国科学技术信息研究所蚍绞莸缱映霭嫔、中国学术期刊馀贪电子杂志社送交本学位论文的复印件和电子文档,允许论文被查阅和借阅,可以采用影印、缩印或其他复制手段保存和汇编学位论文,可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索。本学位论文属斗导师签名:涉密论文口在论文作者签名:日口哆一,.‘
源娲⒌ピ6列床僮鞯奈榷ㄐ杂跋欤贸鲆韵陆崧郏骸氲脑龃笫沟枚敛僮魑榷型曲线法对存储单元电路进行仿真,研究电源电压%⒌ピ1嚷剩、上拉比率使得存储单元稳定性受到一定影响,所以我们需要一种简单高效的稳定性判断方法来缩短设计时间。并且随着器件尺寸等比例缩小,芯片集成度升高,封装密度上升,这一系列的变化都会导致一些意想不到的问题,使得半导体存储器件的可靠性变差。例如,阿尔法粒子注入引发的软错误问题正日益受到关注。本文首先介绍了传统的单元稳定性判断方法:静态噪声容限随后引入一种新型颓叻ǘ缘ピ5亩列床僮鹘蟹治觯⑾指梅椒ū萐有着明显的优越性。它不但能提供存储单元的电压信息,还能提供电流信息,综合两者能做出更准确的稳定性判断。此外,颓叻ū萐实现起来也容易很多,只要通过电路仿真即可实现,不需要另外的数学运算求静态噪声容限的值。运用性增强而写能力却降低;单元比率厂升高有利于改善读稳定性;降低上拉比率利于提高单元写能力。然后,针对目前存储单元面临的粒子注入引起的软错误问题,用一个简化的反相器模型,模拟其在反粒子注入时的输出变化。将该输出用作存储单元电路仿真的输入信号,从而研究仅粒子注入对存储单元双稳电路的稳定性影响。其中,粒子的注入通过一个单指数电流源来模拟。得出结论:等效电阻越大或者存储节点电容越小,仅粒子的注入越容易导致存储单元软错误的发生,以及
闹翟叫。⑸泶砦蟮目赡苄栽酱蟆颓叻ǎ冉戏治隽擞形轪粒子注入时的单元稳定性,发现当元的读稳定性下降,而写能力却得到增强。单元稳定性;颓叻ǎ籥粒子;软错误作者:赵乐指导老师:王子欧深亚微米存储单元稳定性研究
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目录第一章绪论⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯.静态随机存储器及椅榷ㄐ愿攀觥研究背景及意义⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯.论文主要工作⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯章节安排⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯..。第二章静态随机存储器稳定性分析基础⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯.静态噪声容限耐频挤治觥抡娣椒ā颓叻ǚ治鯯ピN榷ㄐ浴存储单元读能力分析⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯存储单元写能力分析⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯颓叻ㄏ喙氐ピ2瘟俊玖W幼⑷胂耂目煽啃苑治觥第三章仅粒子注入下可靠性模型⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯关键电荷治觥可靠性模型⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯.⒌⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯第四章仿真结果及分析⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯颓叻ㄅ卸蟂ピN榷ㄐ浴Ⅱ粒子注入下鹪N榷ㄐ浴虸叻ǚ治鯽粒子注入时的咀元稳定,陀⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯.
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