文档介绍：实验二 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的 1、掌握 TTL 集成门 74LS00 、74LS02 、74LS86 的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2、掌握 TTL 器件的使用规则。 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法。二、集成电路芯片简介数字电路实验中所用到的集成芯片都是双列直插式的,其引脚排列规则如图 2-1 所示。识别方法是:正对集成电路型号(如 74LS27 )或看标记(左边的缺口或小圆点标记),从左下角开始按逆时针方向以 1,2,3,…依次排列到最后一脚(在左上角)。在标准形 TTL 集成电路中,电源端一般排在左上端,接地端 GND 一般排在右下端。如74LS20 为14脚芯片,14脚为,7脚为 GND 。若集成芯片引脚上的功能标号为 NC,则表示该引脚为空脚,与内部电路不连接。三、 TTL 集成电路使用规则 1、接插集成块时,要认清定位标记,不得插反。 2、电源电压使用范围为+ ~+ 之间,实验中要求使用 Vcc =+ 5V 。电源极性绝对不允许接错。 3、闲置输入端处理方法(1) 悬空,相当于正逻辑“1”,对于一般小规模集成电路的数据输入端,实验时允许悬空处理。但易受外界干扰,导致电路的逻辑功能不正常。因此,对于接有长线的输入端,中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路,所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路,不允许悬空。(2) 直接接电源电压(也可以串入一只 1~10K Ω的固定电阻)或接至某一固定电压(+ ≤V≤) 的电源上, 或与输入端为接地的多余与非门的输出端相接。(3) 若前级驱动能力允许,可以与使用的输入端并联。 4、输入端通过电阻接地, 电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。当R≤ 680 Ω时,输入端相当于逻辑“0”;当 R≥ KΩ时,输入端相当于逻辑“1”。对于不同系列的器件,要求的阻值不同。 5、输出端不允许并联使用(集电极开路门(OC) 和三态输出门电路(3S) 除外)。否则不仅会使电路逻辑功能混乱,并会导致器件损坏。 6、输出端不允许直接接地或直接接+ 5V电源,否则将损坏器件,有时为了使后级电路获得较高的输出电平, 允许输出端通过电阻 R 接至, 一般取 R=3~ KΩ。四、实验原理 1 、二输入与非门 74LS00 本实验采非门 74LS00 , 即在一块集成块内含有 4 个互相独立的与非门, 每个与非门有 2 个输入端。其引脚排列如图 2- 1(a) 所示。图2-1 (a) 74LS00 引脚排列 2 、二输入或非门 74LS02 本实验采二输入或非门 74LS02 ,即在一块集成块内含有 4 个互相独立的或非门, 每个或非门有 2 个输入端。其引脚排列如图 2- 2(a) 所示。图2-2 (a) 74LS02 引脚图 3 、二输入异或门 74LS86 本实验采二输入异或门 74LS86 ,即在一块集成块内含有 4 个互相独立的异或门, 每个与非门有 2 个输入端。其引脚排列如图 2- 3(a) 所示。图2- 3(a) 74LS86 引脚图五、实验设备与器件 1、+5V 直流电源 2、逻辑电平开关 3、74LS00 、74LS02 、74LS86 六、实验内容与步骤 1、验证 TTL 集成与非门 74LS00 的逻