文档介绍：电子元器件检验规X标准书
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2011/03/30
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系统文件新制定
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A/0
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标记的一端为负极。
其它二极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否那么该二极管不合格。
注：有颜色标记的一端为负极。
备注
抽样方案说明：对于CHIP二极管，执行抽样方案时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
盘中取3~5pcs元件进展检测；AQL不变。检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂
数字万用表操作指引＂。
〔四〕插件用电解电容.
1. 目的
作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适用X围
适用于本公司所有插件用电解电容之检验。

3. 抽样方案
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。
4. 允收水准〔AQL〕
严重缺点(CR): 0;
主要缺点(MA): ;
次要缺点(MI): .
5. 参考文件
?LCR数字电桥操作指引?、
?数字电容表操作指引?。
检验工程
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可承受。
目检
数量检验
MA
实际包装数量与Label上的数量是否一样,假设不同不可承受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,假设不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a. 极性等标记符号印刷不清，难以识别不可承受；
b. 电解电容之热缩套管破损、脱落，不可承受；
c. 本体变形，破损等不可承受；
，均不可承受。
目检
可焊性检验
MA
，或完全不上锡不可承受。(将PIN沾上现使用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是那么拒收)
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
尺寸规格检验
MA
a. 外形尺寸不符合规格要求不可承受。
卡尺
假设用于新的Model，需在PCB上对应的位置进展试插
电性检验
MA
电容值超出规格要求那么不可承受。
用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测
〔五〕晶体类检验规X
1. 目的
作为IQC人员检验晶体类物料之依据。
2. 适用X围
适用于本公司所用晶体之检验。
3. 抽样方案
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样方案；具体抽样方式请参考?抽样方案?。

4. 允收水准〔AQL〕
严重缺点(CR): 0;
主要缺点(MA): ;
次要缺点(MI): .
5. 参考文