文档介绍：广西大学实验报告纸
实验内容_指导老师
【实验名称】
设计一个串行累加器
【实验目的】
学****用中规模双向移位寄存器逻辑功能集成电路的使用方法。
熟悉移位寄存器的应用一一构成串行累加器和环形计数器。
【设计任务】
用移位寄存器图
本实验选择集成电路芯片，要求使用的集成电路芯片种类尽可能的少。本实
验两个移位寄存器选用两块74LS194芯片，全加器利用一块全加器集成芯片
74LS183芯片，而D触发器用一块74LS74芯片。画出实验线路图。
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图5串行累加器实验线路图
【实验步骤】
.打开数字电路实验箱，观察实验箱，看本实验所用的芯片、电压接口（+5V）、
接地接口的位置。
.按下开关按钮，检查 74LS194 74LS74 74LS183芯片是否正常。
检查74LS194芯片是否正常的方法：根据74LS194芯片（加数位移寄存器）的逻辑功能表检查74LS194芯片是否正常。将74LS194芯片的“Uj'端接+5V, “GND端接地。将74LS194芯片的CR清零端接上高电平（清零端为低电平有
效），将其输出端Q3 Qi Q2 Q3接上发光二极管用于检查输出，预置并行输
入端悬空（相当于并行输入1111）,计数脉冲输入端CP接脉冲输出，移位控制端接高低电平控制开关。按下表步骤控制芯片的输入，若对应的输出结果如下表所示则表明芯片正常。
检测74LS194芯片功能表
CP
信号
寄存器
CR
&
S。
Sr
Q0
Q1
Q2
Q3
说明
0
X
X
X
0
0
0
0
清零
1
1
1
1
X
1
1
1
1
2
1
0
1
0
0
1
1
1
右移
3
1
0
1
0
0
0
1
1
右移
4
1
0
1
0
0
0
0
1
右移
5
1
0
1
0
0
0
0
0
右移
6
1
0
1
1
1
0
0
0
右移
7
1
0
1
1
1
1
0
0
右移
8
1
0
1
1
1
1
1
0
右移
9
1
0
1
1
1
1
1
1
右移
检查74LS183芯片是否正常的方法：将74LS183的“U” ”端接+5V, “GND
端接地。根据74LS183芯片的功能表检查芯片是否正常。将 74LS183芯片的人、Bn、Cn」接高低电平控制开关，用于这几个数据的输入，将其 Cn、&端接上发光二极管，用于检查输出。若芯片的输入输出如下表所示则表明芯片正常。
检测74LS183芯片功能表
An
Bn
Cn」
Cn
Sn
0
0
0
0
0
0
0
1
0
1
0
1
0