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CVD金刚石薄膜辐射探测器耐辐照性能研究.pdf

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CVD金刚石薄膜辐射探测器耐辐照性能研究.pdf

上传人:ds6573 2015/6/6 文件大小:0 KB

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CVD金刚石薄膜辐射探测器耐辐照性能研究.pdf

文档介绍

文档介绍:鸶帐�∧し�涮讲馄髂头�招阅苎芯�潘洪波,王兰,欧阳晓平,刘林月,张忠兵�笛��笛榻峁�敕治�漂移速度快,用金刚石材料制成的半导体探测器脉冲辐射测量领域的理想材料。随着��际�的发展成熟,使得利用��鸶帐�牧现谱靼�领域中具有重要的价值。我们利用��鸶帐�薄膜研制出金刚石薄膜探测器,并研究了其对此次实验用到的金刚石薄膜探测器其简单清洗后;然后,分别在薄膜两面依次蒸镀�.���鹗舨悖�詈螅���庾爸瞥闪�照射剂量的变化曲线,按初始电流信号归一,其随伽马射线连续照射剂量变化的曲线如图��示。在总剂量达到���浊俚馁ぢ砩湎叩恼丈�下,并没有观测到由于辐照损伤造成的探测器信用,还略有上升,但这种上升低于��%。作用时主要与物质的核外电子发生作用,故很难引起晶格原子的位移,半导体材料对伽马射线的射线并没有引起化学键结合非常牢固的金刚石第六届全国核仪器及其应用学术会议论文集金刚石材料禁带宽度宽�.��,载流子具有耐辐照、时间响应快的优点‘��】,是高强度导体探测器更为便利。对金刚石探测器的主要优点之一的耐辐照强度的研究,在高强度辐射测量����稳态伽马的耐辐照性能。制作过程为:首先,将��鸶帐�∧ぞ�����金属一半导体一金属�峁埂V�得的金刚石薄膜探测器灵敏体积为探测器伽马射线耐辐照性能实验,在西北核技术研究所���曜嘉忍�.�����湎咴�照射下完成。探测器处在在剂量率为��痳��测量位置长时间连续照射。辐照实验系统结构示意图如图��荆�经过辐照,探测器信号电流随伽马射线连续号电流的下降,相反地,由于��效应【��康淖�究其原因:由于����伽马射线与物质耐辐照强度往往较大。正如实验结果所示,伽马探测器电流信号的下降,没有造成金刚石探测器的可表征的辐照损伤。相反的,在一定量的伽马��������鞅焙思际跹芯克��靼彩��畔�分箱����摘要:研制出灵敏体积为������腟����峁沟慕鸶帐�∧ぬ讲馄鳎����忍���源上完成了该探测器对����伽马射线的耐辐照性能研究。实验结果表明,该探测器在总剂量为���伦琴的����伽马射线照射后,探测器信号电流没有明显变化。说明金刚石薄膜探测器是具有较高耐辐照强度的,适用于高强度辐射测量领域的半导体探测器。关键词:金刚石薄膜;半导体探测器;耐辐照图�ぢ矸�帐笛榻峁故疽馔�������������������①�������
蓁��·�,����琌����崧�����射线作用产生的电子填补了晶粒内部的陷阱嗍,探测器的电荷收集效率反而随辐照剂量有所上由以上实验结果及分析讨论可知,探测器对伽马射线有极强的耐辐照能力,����饔眉�发出的电子起到了填补空穴的作用,随着�湎�照射量的增加,缺陷减少,