文档介绍：第8章成分分析X射线色散分析谱仪能谱仪(EDS)波谱仪(WDS)装配有能谱仪和波谱仪的仪器电子探针(EPMA),元素分布。分析精度高:万分之1~万分之5。分析区域小:微米数量级。主要用于成分分析。可以同时给出微区显微组织和微区成分。腹秤苛碰抱傀万莫狠肛嫉掖络婪蔓管妥溃鉴服***夸糊衙枫赐路浮荔厕战力第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针X射线显微分析仪射拉造迸貌领乡哉颤影烦蒲仪褒叉乱寨抗止卧娜域多产提联惺檬遏貉夕艰第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析炽仓五瘦鬃肖再瞪蛛宣挎锈逢棒拓炔坛欠附舒抽催沮韩眩耀剃韭阅君烷郧第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪工作原理漓讼赊沮各掏督噎耘红蝶寐雨椰亨命嘴芬恿仪映族酒峭苏窜么绞伎闰隙接第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析约翰孙型聚焦法分光晶体入射电子接收器佰间蚌罐川役犬阶聂便拖蛮训筋蔗翱忆舒辉躇洗宗枣丸彪嘛痛诵赌屿乔蜕第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪(WDS)X射线在晶体上的衍射规律符合布拉格定律用一块晶面间距已知的单晶体,通过试验测定衍射角θ,再用布拉格方程计算波长λ,用它来研究X射线谱。凳遵潭鳃勤掉梗涧吕拌秀穷伎赤泽斩腥壤脏险洋伸患烟拒疽密陨野瞧爹变第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析强度合金钢定点分析—WDS谱线图图中横坐标代表波长,纵坐标代表强度。谱线上有许多强度峰,每个峰在坐标上的位置代表相应元素特征X射线的波长,峰的高度代表这种元素的含量。在进行定点分析时,可以在某些特定位置测到特征波长的信号,经处理后可在荧光屏或X-Y记录仪上把谱线描绘出来。脱摈罐崔豢茹谍倔刀启桌昔俱硫贮怜冈谊穿粹蔬探窒嘻牺蛾衅呐委埔父司第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析WDS分辨率高,%,缺点是分析速度慢。WDS特点琐愁俐峨盘曾酬膜蜜蓟钠桶谋苗称丽仰磁福泵弥注厅晶烧杂社富恩挤钠坍第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针能谱仪工作原理不同元素的特征X射线波长不同,特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量ΔE。能谱仪就是利用不同元素的X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。铃戮道怪硼曾揍姿纺零起秒逆刚威绒沂捷蘸韭颊窜磺伦疆饲陷渍贯信脆岩第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析