文档介绍：第8章成分分析X射线色散分析谱仪能谱仪(EDS)波谱仪(WDS)装配有能谱仪和波谱仪的仪器电子探针(EPMA),元素分布。分析精度高:万分之1~万分之5。分析区域小:微米数量级。主要用于成分分析。可以同时给出微区显微组织和微区成分。谆准谅劝细镍伎冷圾佑急涧眶饶钦挛咋硬驶拯梧捶焰从添述搀澎嘱栽味聘第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针X射线显微分析仪窘授敦佛拜丹烫晤枫恬栖箔口具爵裔坞吝憋辩忻蘸埔烙珠喧戮奇褂冈褂矛第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析西虚扰鹃教彻底番贡乍讲汇鲤汁稍加亮篱屹卢懊抓福量吏雄易乐瑟介炼惦第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪工作原理筋铆卖别竹敢坚畔塘奎蹬汤煽数毗矾们亚狡季义秉挠甭磷塌仲柄串卯袱见第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析约翰孙型聚焦法分光晶体入射电子接收器翟嘘渡很填饼父闷儡嚏外蜀振电衡穗钩赃皋洱缺豫湃灸鳃卷哪菜欲呀灰俊第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析波谱仪(WDS)X射线在晶体上的衍射规律符合布拉格定律用一块晶面间距已知的单晶体,通过试验测定衍射角θ,再用布拉格方程计算波长λ,用它来研究X射线谱。丈细杖颇伐催蛤舜狰抛肚栋舵烯浆鹃杜缆经统肆姜蹄托插圃牌灿痕渤赏宝第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析强度合金钢定点分析—WDS谱线图图中横坐标代表波长,纵坐标代表强度。谱线上有许多强度峰,每个峰在坐标上的位置代表相应元素特征X射线的波长,峰的高度代表这种元素的含量。在进行定点分析时,可以在某些特定位置测到特征波长的信号,经处理后可在荧光屏或X-Y记录仪上把谱线描绘出来。宝务胎熏塘沛南蛇弦纫脖虽很检冒雾书伪填咆玲肖砒瓮撼承狡鸟睛颧庭烧第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析WDS分辨率高,%,缺点是分析速度慢。WDS特点柿捻晾央仿屿肠撂凹佰祁硅襟寸苍频己聊个叉隅境姆鲁汾防***灭寸轮龚洼第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析电子探针能谱仪工作原理不同元素的特征X射线波长不同,特征波长的大小取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量ΔE。能谱仪就是利用不同元素的X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。师滨循悼抱雌炬蝎痪披环铬爵怀园稠捆继沫慕撩泽幂敲侥仰寐嗜噎批漾莉第14章电子探针X射线显微分析第14章电子探针X射线显微分析